芯片檢測影像測量儀

產(chǎn)品時間：2024-07-09

簡要描述：

芯片檢測影像測量儀可以測量十五種幾何元素（點,直線,平面,圓,圓弧,橢圓,矩形,鍵槽,圓環(huán),圓柱,圓錐,球,開曲線,閉曲線,焦面,角度和距離），并且可以測量高度,也可以預(yù)置基本幾何元素。根據(jù)實際測量需求可以選擇接觸式測量---探針測量，也可以選擇非接觸式測量---影像和激光位移器測量。多種測量方法: 智能尋邊,整體采點,多段采點,鼠標(biāo)采點,鄰近采點,十字線采點,放大采點,對比采點。

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詳細(xì)介紹

芯片生產(chǎn)企業(yè)，產(chǎn)品有200多個品種，并在不斷的增加，每種芯片產(chǎn)量少則幾千件，多則上萬件。所有的芯片需要全檢，并根據(jù)不同的尺寸公差，將產(chǎn)品分成優(yōu)、良、差三個等級?？蛻粢酝墓ぷ鞣绞绞遣捎?strong>芯片檢測影像測量儀，一個一個進(jìn)行人工操作測量分級，這對客戶來說無疑是大的工作量。面對與日俱增的工作量，對檢測及分揀自動化提出了要求。

測量是我公司自動影像加探針和激光位移器測量應(yīng)用軟件，可以對二維測量的坐標(biāo)進(jìn)行可視化分析處理和檢測，也可以使用探針進(jìn)行三維幾何元素測量,也可以用激光位移器測量平面度和高度。應(yīng)用于各種精密制造業(yè)，如手機(jī)組件,模具,電子,通信,機(jī)械,五金,塑料,儀表,鐘表,PCB,LCD等行業(yè)?？蓽y量的材料包括金屬,塑料,橡膠,玻璃,PCB,陶瓷等;

芯片檢測影像測量儀技術(shù)參數(shù)：

工作臺	儀器型號	EVM-1510G	EVM-2010G	EVM-2515G	EVM-3020G	EVM-4030G
	金屬臺尺寸(mm)	354×228	404×228	450×280	500×330	606×466
	玻璃臺尺寸(mm)	210×160	260×160	306×196	350×280	450×350
	運(yùn)動行程(mm)	150×100	200×100	250×150	300×200	400×300
	儀器重量(kg)	100	110	120	140	240
	外型尺寸LWH	756×540×860		670×660×950		720×950×1020

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